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半导体特性测试系统(Scs-4200)(4200-SCS)

2018-01-23 15:14:46

仪器名称 半导体特性测试系统(Scs-4200) 仪器型号 4200-SCS
所属单位 国家纳米科学中心 所属区域中心 北京物质和纳米科学大型仪器区域中心
制造商名称 美国Keithley Instruments, Inc./USA(美国吉时利仪器公司) 国别 美国
购置时间 2005/04/01 放置地点 东104
预约审核人 王东伟 操作人员 王东伟
仪器工作状态 正常 预约形式 可不预约
预约类型 时间预约    
仪器大类 工艺实验设备 仪器中类 物理量测试仪器 仪器小类 光电测量仪器
仪器主要功能及描述
备注

仪器收费信息
序号 样品分类 分析项目 前处理标准名称 分析项目标准名称 对外服务价格
1 固态 I-V,C-V测量 用户指定 用户指定 150

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