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低温探针测试系统(Agilent B1500)

2018-01-23 15:13:22

仪器名称 低温探针测试系统 仪器型号 Agilent B1500
所属单位 半导体研究所 所属区域中心 北京信息电子技术大型仪器区域中心
制造商名称 美国 Agilent 国别 美国
购置时间 2009/06/29 放置地点 半导体所3号楼1层东区
预约审核人 宁瑾 操作人员 宁瑾
仪器工作状态 正常 预约形式 可不预约
预约类型 时间预约    
仪器大类 工艺实验设备 仪器中类 物理量测试仪器 仪器小类 光电测量仪器
仪器主要功能及描述
备注

仪器收费信息
序号 样品分类 分析项目 前处理标准名称 分析项目标准名称 对外服务价格
1 电泳凝胶,膜阵列,微阵列,印记,微孔板,组织切片 半导体电学特性测试分析 用户指定 用户指定 100

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