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元器件检测筛选-集成电路高温动态老化系统(BTI-E3000AT/1)

2018-01-18 09:42:27

仪器名称 元器件检测筛选-集成电路高温动态老化系统 仪器型号 BTI-E3000AT/1
所属单位 空间科学与应用研究中心 所属区域中心
制造商名称 中科 国别 中国
购置时间 1998/09/08 放置地点 D0603
预约审核人 李哲 操作人员 李哲
仪器工作状态 正常 预约形式 必须预约
预约类型 项目预约    
仪器大类 工艺实验设备 仪器中类 工艺实验设备 仪器小类 电子工艺实验设备
仪器主要功能及描述
备注

仪器收费信息
序号 样品分类 分析项目 前处理标准名称 分析项目标准名称 对外服务价格
1 元器件质保 集成电路动态功率老化 用户指定 用户指定 30

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