| 仪器名称 | 微操作低温探针台-半导体特征参数分析仪 | 仪器型号 | CRX-4K, 4200-SCS |
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| 所属单位 | 理化技术研究所 | 所属区域中心 | 北京物质和纳米科学大型仪器区域中心 | ||
| 制造商名称 | Lake Shore Cryotronics, Inc | 国别 | 美国 | ||
| 购置时间 | 2013/09/25 | 放置地点 | 理化技术研究所1号楼121 | ||
| 预约审核人 | 陆珩 | 操作人员 | 陆珩 | ||
| 仪器工作状态 | 正常 | 预约形式 | 必须预约 | ||
| 预约类型 | 时间预约 | ||||
| 仪器大类 | 工艺实验设备 | 仪器中类 | 物理量测试仪器 | 仪器小类 | 光电测量仪器 |
| 仪器主要功能及描述 | 该闭式循环制冷探针台无需制冷剂，能够提供5.6K至670K的变温真空环境。所配备的电学、光学通道，结合光学激发/探测模块、半导体特征参数测试仪Keithley 4200-SCS，适用于变温条件下对于样品光电、介电等物性的表征、研究。 温度范围5.6K~670K；真空度可达5×10-4 torr；配备探针BeCu 3, 10, 25μm半径，Wu 25μm半径，应用频率可达1GHz； 激光光源：450nm (100mW), 532nm (80mW), 660nm (100mW)； 溴钨灯源：250W，350nm~2500nm，光斑直径80mm； 单色仪：200nm~2500nm，分辨率0.1nm； Keithley 4200-SCS：I-V测试模块：0-200V，电压分辨率1mV，电流分辨率0.1fA，4路通道；C-V测试：1kHz-10MHz，测试电容范围1pF-1mF，精度±0.1%；双通道快速I-V模块：电压范围0-40V，电流范围0-800mA，脉冲输出分辨率20ns | ||||
| 备注 | |||||
| 序号 | 样品分类 | 分析项目 | 前处理标准名称 | 分析项目标准名称 | 对外服务价格 |
|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 块材、薄膜 | 直流I-V测试 | 用户指定 | 用户指定 | 450 |
| 2 | 块材、薄膜 | 电容电压C-V测试 | 用户指定 | 用户指定 | 450 |
| 3 | 块材、薄膜 | 超快Pulsed I-V测试 | 用户指定 | 用户指定 | 450 |
| 4 | 块材、薄膜 | 光激发测试 | 用户指定 | 用户指定 | 100 |
激光粒度仪(理化中心)（MASTERSIZER 2000）
激光粒度分析仪（生态）（Mastersizer 2000）
渗透检测装置（JX/FPI.ZHI）
多功能超声检测系统（UTEX320、OMNI-IX-UT4、Omniscan PA16/128 ECT4）
1-高温电子蠕变持久试验机（css-3905）
树木年轮分析仪（Lintab6高精度版）
液氮发生器（教场园区）（STRILING-2）
纳米压印机(Hex-1) （HEX-01）
磁控溅射镀膜仪(Acs-4000) （ACS-4000-C4）
纳米粒度和ZETA电位分析仪（纳米区域中心）（Zetasizer Nano ZS ZEN3600）
LB6411中子剂量率探测器德国伯托BERTHOLD
LB6500-4-H10剂量率探头德国伯托BERTHOLD
LB761低本底放射性测量仪德国伯托BERTHOLD
LB134剂量率监测器德国伯托BERTHOLD
LB2046便携式αβ测量仪德国伯托BERTHOLD
LB761低本底放射性测量仪德国伯托BERTHOLD
LB790低本底放射性测量仪德国伯托BERTHOLD
LB1343污染测量仪德国伯托BERTHOLD
LB147手脚衣物污染监测仪德国伯托BERTHOLD
LB124SCINT便携式污染测量仪德国伯托BERTHOLD
