仪器名称 | 太阳级硅材料切片分析检测系统 | 仪器型号 | WT-1200B |
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所属单位 | 合肥物质科学研究院应用技术研究所 | 所属区域中心 | 合肥战略能源和物质科学大型仪器区域中心 | ||
制造商名称 | 匈牙利Semilab公司 | 国别 | 匈牙利 | ||
购置时间 | 2014/12/17 | 放置地点 | 应用技术研究所 | ||
预约审核人 | 李京伟 | 操作人员 | 李京伟 | ||
仪器工作状态 | 正常 | 预约形式 | 必须预约 | ||
预约类型 | 时间预约 | ||||
仪器大类 | 室内分析测试设备 | 仪器中类 | 其他通用科学仪器设备 | 仪器小类 | 其他 |
仪器主要功能及描述 | "该系统中可以实现大尺寸晶硅铸锭材料的切割及少子寿命和电阻率的检测。 1.金刚石线切割机用于切割各种导电、半导电和不导电的脆性材料,如单/多晶硅、复合材料、玻璃、宝石、岩石、碳化硅、耐火砖、陶瓷、环氧体等。 2.少子寿命仪可以实现单点少子寿命测试。 3.电阻率仪是运用四探针测量原理的多功能综合测试装置,它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率,适用于半导体及太阳能行业材料的筛选。 " | ||||
备注 |
序号 | 样品分类 | 分析项目 | 前处理标准名称 | 分析项目标准名称 | 对外服务价格 |
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1 | 有机、无机固体 | 太阳级硅材料切片分析检测 | 用户指定 | 用户指定 | 200 |
同位素质谱仪 MAT253(MAT253)
X射线衍射仪(Ultima IV)
气相色谱-质谱联用仪(Sturn 2000)
超快速高分离液相色谱仪(Prominence UFLC XR)
流动分析仪Skalar(1)(San++System)
流动分析仪Skalar(2)(San++System)
透射电子显微镜(H-7500)
Delta S气体同位素质谱仪(Delta S)
元素分析-同位素质谱分析联用仪(Flash-2000 Delta V ADVADTAGE)
热表面电离质谱计(IsoProbe-T)(IsoProbe-T)
LB6411中子剂量率探测器德国伯托BERTHOLD
LB6500-4-H10剂量率探头德国伯托BERTHOLD
LB761低本底放射性测量仪德国伯托BERTHOLD
LB134剂量率监测器德国伯托BERTHOLD
LB2046便携式αβ测量仪德国伯托BERTHOLD
LB761低本底放射性测量仪德国伯托BERTHOLD
LB790低本底放射性测量仪德国伯托BERTHOLD
LB1343污染测量仪德国伯托BERTHOLD
LB147手脚衣物污染监测仪德国伯托BERTHOLD
LB124SCINT便携式污染测量仪德国伯托BERTHOLD