| 仪器名称 | X射线衍射仪 | 仪器型号 | X‘Pert3 Powder |
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| 所属单位 | 中国科学院重庆绿色智能技术研究院 | 所属区域中心 | |||
| 制造商名称 | 帕纳科 | 国别 | 荷兰 | ||
| 购置时间 | 2014/08/13 | 放置地点 | 北一超净间 | ||
| 预约审核人 | 甘捷,杨志群 | 操作人员 | 甘捷,杨志群 | ||
| 仪器工作状态 | 正常 | 预约形式 | 必须预约 | ||
| 预约类型 | 项目预约 | ||||
| 仪器大类 | 室内分析测试设备 | 仪器中类 | 光谱仪器 | 仪器小类 | X射线光谱仪器 |
| 仪器主要功能及描述 | 适用于产品的组成分析、材料的特性分析、反射率、膜厚测试等，应用范围如：水泥、金属和钢铁、纳米材料、塑料、聚合物和石油化工、工业采矿、玻璃和高分子、催化剂、硅半导体芯片、薄膜和高级材料、药用液体、可再生原料、环保样品等分析领域。 | ||||
| 备注 | 每周三开机，申请后，请尽快与管理员联系 | ||||
| 序号 | 样品分类 | 分析项目 | 前处理标准名称 | 分析项目标准名称 | 对外服务价格 |
|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 薄膜 | XRD谱图扫描（30min以上） | 用户指定 | 用户指定 | 120 |
| 2 | 粉末或固体 | XRD谱图扫描（30min以上） | 用户指定 | 用户指定 | 120 |
| 3 | 薄膜 | 薄膜厚度测试 | 用户指定 | 用户指定 | 200 |
| 4 | 薄膜 | 薄膜掠入射扫描 | 用户指定 | 用户指定 | 200 |
| 5 | 薄膜 | XRD谱图扫描 | 用户指定 | 用户指定 | 120 |
| 6 | 粉末或固体 | XRD谱图扫描 | 用户指定 | 用户指定 | 120 |
同位素质谱仪 MAT253（MAT253）
X射线衍射仪（Ultima IV）
气相色谱-质谱联用仪（Sturn 2000）
超快速高分离液相色谱仪（Prominence UFLC XR）
流动分析仪Skalar(1)（San++System）
流动分析仪Skalar(2)（San++System）
透射电子显微镜（H-7500）
Delta S气体同位素质谱仪（Delta S）
元素分析-同位素质谱分析联用仪（Flash-2000 Delta V ADVADTAGE）
热表面电离质谱计(IsoProbe-T)（IsoProbe-T）
LB6411中子剂量率探测器德国伯托BERTHOLD
LB6500-4-H10剂量率探头德国伯托BERTHOLD
LB761低本底放射性测量仪德国伯托BERTHOLD
LB134剂量率监测器德国伯托BERTHOLD
LB2046便携式αβ测量仪德国伯托BERTHOLD
LB761低本底放射性测量仪德国伯托BERTHOLD
LB790低本底放射性测量仪德国伯托BERTHOLD
LB1343污染测量仪德国伯托BERTHOLD
LB147手脚衣物污染监测仪德国伯托BERTHOLD
LB124SCINT便携式污染测量仪德国伯托BERTHOLD
