场发射扫电镜（S-4800）

主要技术指标

二次电子分辨率： 1.0nm (15 kV) ； 1.4nm (1 kV, WD = 1.5mm , 减速模式 ) ； 2.0nm (1 kV, WD = 1.5mm , 普通模式 ) 在低加速电压（ 1kV ）下 , 有利于观察绝缘或导电性差的样品。放大倍数： 低倍模式： ×20～ ×2,000 ，高倍模式： ×30～ ×800,000电子枪： 冷阴极场发射电子源 加速电压： 0.5～30kV (0.1KV/ 步，可变，普通模式 ) 样品台： X: 0～ 50mm Y: 0～50mm Z

主要功能/应用范围

S-4800是目前场发射扫描电子显微镜中的高端产品,该电镜在高加速电压下的二次电子像分辨率为1 nm。在低加速电压和减速条件下，S-4800可以观察绝缘或导电性差的样品。该电镜配有X射线能谱仪，可以在观察样品表面微观形貌的同时进行微区成分定性、定量、元素分布以及相分析，是研究纳米材料等方向的有力工具。

服务内容

用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。

服务的典型成果

为校内外师生提供测试服务

对外开放共享规定

只提供送样测试服务

参考收费标准

480元每小时

仪器联系人：

王磊

联系电话：

13820499537

电子邮箱：

传　　真：