如今,化学和医药产品的质量稳定有着非常重要的意义。一些干扰性的影响因素,例如生产设备中出现有害沉积物,不仅会影响产品质量,还会损坏生产设备的零部件。而在现代化分析技术的帮助下,用户在几分钟内即可完成故障的分析诊断。
在流程工艺设备中总是不断出现由有害沉积物在生产设备中的沉积而带来的故障和干扰。其存在可能导致严重后果:包括从影响产品质量开始到损坏生产设备零部件直至代价昂贵的生产设备全部停产。而在出现这些“致命后果”前人们往往不知道哪里出了问题,是在反应器中?还是在管道中?
因此,实验分析技术服务商——德国Currenta分析技术公司提供了一种利用X 射线荧光分析仪进行现状分析的技术服务,能够快速、定性和半定量地发现生产设备中沉积残留物的检测分析方法。
图1. Currenta 公司的分析师利用S8 Tiger 型的X 射线荧光分析可自动对多个被测样本依次进行分析检验。
该项元素分析技术的负责人HansChristian Mans 博士承诺:“应用该方法,设备操作中在几分钟内就能测试分析结果,并能迅速地采取有效措施。借助于我们的专业设备和专业技术,能够在很短的时间里发现用户设备中的问题。”若检测分析的结果需要进行进一步核实、验证时,可以要求技术力量雄厚、检测方法多样的Currenta 公司总部给予支持和帮助。这样,就能够在元素分析方法之外再利用各种现代化的技术分析手段,例如色谱分析(气相色谱法和高效液相色谱法)、光谱学分析(红外光谱,核磁共振,质谱)或者其他各种物理方法(差热分析法和差示扫描量热法等)来解决悬而未决的疑难问题了。
来自化学工业园的实例
定期、规律地对原材料质量和产品质量进行检测、监控也是防止意外损失、防止生产设备停车损失的有效方法。Mans 博士介绍说:“在许多情况下,利用X 射线荧光分析技术RFA 都能够为用户提供最佳的解决方案。”例如一家化学工业园的化工企业,其合作伙伴的检测仪突然发生故障。这就要求以最快的速度找到一个帮忙的合作伙伴,否则产品、本产品等待检测数据会导致整套化工设备停止运行,带来的损失将非常惨重。
与原来使用的方法相比,Currenta公司的检测分析仪是最佳的替代方法。这也就使得这家化工企业能在其检测分析技术服务支持下,继续保证高质量的生产,并顺利地度过了周末的生产时间。
图2. 可以直接对准备好的粉质样本进行检测分析。
从方法研究、开发到外包
从前面介绍的例子中可以看出:X射线荧光分析技术RFA 是一种能够精确、快速测定从mg/kg 级到百分比级残留元素的检测分析方法。Currenta 公司的技术人员也可以根据用户提供的原材料和产品数据开发具有针对性的、最合适的X 射线荧光分析方案,并对检测仪按照特定的检测分析任务进行标定。
“X 射线荧光分析技术RFA 是一种适合于规律性的对产品原材料和产品质量进行检测分析的技术方法。”Mans 博士强调说道。因此,用户可以把原材料质量和产品质量检测的任务全盘委托给Currenta 公司。这也使得用户企业把迄今为止一直被占用的资源释放出来,从事更加重要的工作。同时企业也节省了投资购买价格不菲的检测分析仪、省略了这些仪器设备的维护保养费用和操作者不断的技术培训费用。
至于需要元素分析的原材料是何种形态,则无关紧要。因为在进行X 射线荧光分析时,被测样本要根据需要进行研磨、压制、熔化,或者直接采集液体样本进行检测。经过检测分析后的样本并不会被破坏,还可作为残留物样本分类保存起来或者供其他检测分析使用。
Currenta 公司通过了国际标准(DINEN ISO/IEC 17025 标准)的认证审核。另外,他们还可以按照GMP 药品生产质量管理规范和GLP 药品非临床研究质量管理规范进行检验。
扩展阅读
X 射线荧光分析技术是一种精确、快速测定从mg/kg 级到百分比级残留元素的检测分析方法。被测样本无需进行处理,且检测分析之后不会被破坏。X 射线荧光分析技术常用于原材料的检测分析,例如在金属加工企业或者原材料、润滑剂生产企业中的材料成分分析。
来源:实验与分析LB6411中子剂量率探测器德国伯托BERTHOLD
LB6500-4-H10剂量率探头德国伯托BERTHOLD
LB761低本底放射性测量仪德国伯托BERTHOLD
LB134剂量率监测器德国伯托BERTHOLD
LB2046便携式αβ测量仪德国伯托BERTHOLD
LB761低本底放射性测量仪德国伯托BERTHOLD
LB790低本底放射性测量仪德国伯托BERTHOLD
LB1343污染测量仪德国伯托BERTHOLD
LB147手脚衣物污染监测仪德国伯托BERTHOLD
LB124SCINT便携式污染测量仪德国伯托BERTHOLD