肖特基场发射扫描电子显微镜（SIRION200）

2018-01-23 15:12:33

仪器名称	肖特基场发射扫描电子显微镜	仪器型号	SIRION200
所属单位	中国科学技术大学	所属区域中心	合肥战略能源和物质科学大型仪器区域中心
制造商名称	美国FEI电子光学公司	国别	美国
购置时间	2005/07/18	放置地点	理化中心128室
预约审核人	付圣权	操作人员	付圣权
仪器工作状态	正常	预约形式	必须预约
预约类型	项目预约
仪器大类	室内分析测试设备	仪器中类	显微镜及图象分析仪器	仪器小类	电子显微镜
仪器主要功能及描述	本仪器具有电子枪亮度高、束流稳定，图像分辨率高、景深大等特点，放大倍率100~300000倍连续可调，可观察物体二次电子像、背散射电子像，同时可进行X射线能谱分析和阴极荧光光谱分析： 1．固体物质表面形貌观察 2．背散射电子像（BSE 3．X射线能谱(EDS） 4．阴极荧光光谱(CL) 主要技术指标分辨率 1.2nm @ 15kV，1.5nm @ 10kV；能谱分辨率133eV(Mn Ka)，分析元素B（5）-- U（92）阴极荧光： 300 nm — 900 nm
备注

仪器收费信息

序号	样品分类	分析项目	前处理标准名称	分析项目标准名称	对外服务价格
1	材料微结构分析	SEM表面形貌结构表征	用户指定	用户指定	100
2	材料微结构分析	SEM表面形貌结构表征	用户指定	用户指定	0
3	材料微结构分析	SEM表面形貌结构表征	用户指定	用户指定	0
4	材料微结构分析	SEM表面形貌结构表征	用户指定	用户指定	0
5	材料微结构分析	CL阴极荧光显微成象及其光谱分析	用户指定	用户指定	0
6	材料微结构分析	CL阴极荧光显微成象及其光谱分析	用户指定	用户指定	0
7	材料微结构分析	SEM表面形貌结构表征	用户指定	用户指定	0