仪器名称 | 冷场场发射扫描电子显微镜 | 仪器型号 | JSM-6700F |
|
|
所属单位 | 中国科学技术大学 | 所属区域中心 | 合肥战略能源和物质科学大型仪器区域中心 | ||
制造商名称 | 日本电子株式会社(JEOL) | 国别 | 日本 | ||
购置时间 | 2001/10/08 | 放置地点 | 理化中心130实验室 | ||
预约审核人 | 付圣权 | 操作人员 | 付圣权 | ||
仪器工作状态 | 正常 | 预约形式 | 必须预约 | ||
预约类型 | 项目预约 | ||||
仪器大类 | 室内分析测试设备 | 仪器中类 | 显微镜及图象分析仪器 | 仪器小类 | 电子显微镜 |
仪器主要功能及描述 | 本仪器具有高的分辨率,放大倍率几十倍到几十万倍连续可调,可观察物体二次电子 像、背散射电子像,同时可进行X射线能谱分析: 1. 固体物质表面形貌观察可广泛应用于生物、物理、化学、纳米材料、金属材料、高分子材料等方面的表面形貌观察、粒度测量、集成电路质量检验、断口分析、失效分析等。 2. 背散射电子像(BSE)背散射电子可显示出试样微区原子序数或化学成分的差异,即试样的成分衬度。根据背散射电子像的亮暗程度,可判别出相应区域的原子序数的相对大小,由此可对陶瓷、金属或合金等材料的显微结构进行分析。 主要技术指标 分辨率 1.0nm @ 15kV,能谱分辨率133eV(Mn Ka),分析元素B(5)-- U(92) | ||||
备注 |
序号 | 样品分类 | 分析项目 | 前处理标准名称 | 分析项目标准名称 | 对外服务价格 |
---|---|---|---|---|---|
1 | 材料微结构分析 | SEM表面形貌结构表征 | 用户指定 | 用户指定 | 100 |
2 | 材料微结构分析 | SEM表面形貌结构表征 | 用户指定 | 用户指定 | 0 |
3 | 材料微结构分析 | SEM表面形貌结构表征 | 用户指定 | 用户指定 | 0 |
4 | 材料微结构分析 | SEM表面形貌结构表征 | 用户指定 | 用户指定 | 0 |
5 | 材料微结构分析 | SEM表面形貌结构表征 | 用户指定 | 用户指定 | 0 |
同位素质谱仪 MAT253(MAT253)
X射线衍射仪(Ultima IV)
气相色谱-质谱联用仪(Sturn 2000)
超快速高分离液相色谱仪(Prominence UFLC XR)
流动分析仪Skalar(1)(San++System)
流动分析仪Skalar(2)(San++System)
透射电子显微镜(H-7500)
Delta S气体同位素质谱仪(Delta S)
元素分析-同位素质谱分析联用仪(Flash-2000 Delta V ADVADTAGE)
热表面电离质谱计(IsoProbe-T)(IsoProbe-T)
LB6411中子剂量率探测器德国伯托BERTHOLD
LB6500-4-H10剂量率探头德国伯托BERTHOLD
LB761低本底放射性测量仪德国伯托BERTHOLD
LB134剂量率监测器德国伯托BERTHOLD
LB2046便携式αβ测量仪德国伯托BERTHOLD
LB761低本底放射性测量仪德国伯托BERTHOLD
LB790低本底放射性测量仪德国伯托BERTHOLD
LB1343污染测量仪德国伯托BERTHOLD
LB147手脚衣物污染监测仪德国伯托BERTHOLD
LB124SCINT便携式污染测量仪德国伯托BERTHOLD