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X射线检测仪(I)(GE Sensing Microme|x CT)

2018-01-18 09:42:23

仪器名称 X射线检测仪(I) 仪器型号 GE Sensing Microme|x CT
所属单位 微电子研究所 所属区域中心 北京信息电子技术大型仪器区域中心
制造商名称 GE 国别 美国
购置时间 2009/12/24 放置地点 一层
预约审核人 张绪 操作人员 张绪
仪器工作状态 正常 预约形式 可不预约
预约类型 时间预约    
仪器大类 室内分析测试设备 仪器中类 光谱仪器 仪器小类 其他光谱仪器
仪器主要功能及描述
备注

仪器收费信息
序号 样品分类 分析项目 前处理标准名称 分析项目标准名称 对外服务价格
1 固体 工件三维显示 用户指定 用户指定 0

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