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高分辨扫描探针成像与综合物性测量系统(QXH-STM/AFM)(Sustomized VT STM/AFM system)

2018-01-16 11:47:52

仪器名称 高分辨扫描探针成像与综合物性测量系统(QXH-STM/AFM) 仪器型号 Sustomized VT STM/AFM system
所属单位 国家纳米科学中心 所属区域中心 北京物质和纳米科学大型仪器区域中心
制造商名称 Omicron Nano Technology GmbH 国别 德国
购置时间 2014/12/22 放置地点 科研楼B105
预约审核人 何小月 操作人员 何小月
仪器工作状态 正常 预约形式 可不预约
预约类型 项目预约    
仪器大类 室内分析测试设备 仪器中类 显微镜及图象分析仪器 仪器小类 扫描探针显微镜
仪器主要功能及描述
备注

仪器收费信息
序号 样品分类 分析项目 前处理标准名称 分析项目标准名称 对外服务价格
1 固态 微纳米尺度物性测量 用户指定 用户指定 0
2 固态 表面形貌测量 用户指定 用户指定 0

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