纳米位移控制成像系统(DQ-NeaSNOM)（NeaSNOM）

2018-01-16 11:46:57

仪器名称	纳米位移控制成像系统(DQ-NeaSNOM)	仪器型号	NeaSNOM
所属单位	国家纳米科学中心	所属区域中心	北京物质和纳米科学大型仪器区域中心
制造商名称	Neaspec GmbH	国别	德国
购置时间	2014/12/31	放置地点	南楼118室
预约审核人	胡德波	操作人员	胡德波
仪器工作状态	正常	预约形式	必须预约
预约类型	时间预约
仪器大类	室内分析测试设备	仪器中类	光谱仪器	仪器小类	激光光谱仪器
仪器主要功能及描述	散射型扫描近场光学显微镜（s-SNOM）将光学天线技术与扫描探针技术有机结合，利用镀铂AFM探针的天线效应在探针尖端附近产生高度局域化的强光场。由于该局域强场与样品发生近场相互作用，远场测量得到的散射信号就反应了样品该区域的光学特性。测量时AFM探针工作在轻敲模式，随着针尖的上下振动，样品被测区域中信号的强度也发生周期性变化，因此对于远场散射信号也有一个周期性调制，而针尖和样品其他区域的散射光则几乎不被调制，因此很容易利用锁相放大技术将这些背景信号从探测信号中滤除。通过探针扫描样品表面，可以同时得到样品表面形貌图像和近场光学图像。其成像分辨率仅由针尖的几何尺寸决定，典型值为20 nm.
备注	此仪器必须与波长可调谐激光器和光谱测量系统（NIM）配套使用，预约时两台仪器必须同时预约。散射型扫描近场光学显微镜（s-SNOM）是进行高空间分辨率纳米光学表征的专用仪器，不接受常规AFM测试的预约请求。