仪器名称 | 原子力显微镜 | 仪器型号 | Dimension Icon |
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所属单位 | 中国科学技术大学 | 所属区域中心 | 合肥战略能源和物质科学大型仪器区域中心 | ||
制造商名称 | Bruker Nano Inc. | 国别 | 美国 | ||
购置时间 | 2014/07/01 | 放置地点 | 科大西区特种楼群楼微纳米加工实验室 | ||
预约审核人 | 操作人员 | 荣皓,微纳中心 | |||
仪器工作状态 | 正常 | 预约形式 | 必须预约 | ||
预约类型 | 时间预约 | ||||
仪器大类 | 室内分析测试设备 | 仪器中类 | 显微镜及图象分析仪器 | 仪器小类 | 扫描探针显微镜 |
仪器主要功能及描述 | 原子力显微镜(Atomic Force Microscope ,AFM),一种可用来研究包括绝缘体在内的固 体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和微悬臂之间的极微弱的原子间相互作 用力来研究物质的表面结构及性质。微悬臂针尖与样品表面原子间的相互作用力使微悬臂发生 变形,通过检测微悬臂的形变获得纳米级分辨率的表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。主要 用于样品表面形貌表征、材料力学及电学特性表征。 主要技术指标 1.XY 扫描范围 90μm,Z范围14μm,样品尺寸≤150mm; 2.Nanoscope V控制器,具备8通道数据采集能力; 3.轻敲、接触和智能扫描三种形貌成像模式,具有摩擦力和相位图; | ||||
备注 |
序号 | 样品分类 | 分析项目 | 前处理标准名称 | 分析项目标准名称 | 对外服务价格 |
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1 | 材料微结构分析 | 材料显微结构近原子尺度的高分辨表征 | 用户指定 | 用户指定 | 300 |
同位素质谱仪 MAT253(MAT253)
X射线衍射仪(Ultima IV)
气相色谱-质谱联用仪(Sturn 2000)
超快速高分离液相色谱仪(Prominence UFLC XR)
流动分析仪Skalar(1)(San++System)
流动分析仪Skalar(2)(San++System)
透射电子显微镜(H-7500)
Delta S气体同位素质谱仪(Delta S)
元素分析-同位素质谱分析联用仪(Flash-2000 Delta V ADVADTAGE)
热表面电离质谱计(IsoProbe-T)(IsoProbe-T)
LB6411中子剂量率探测器德国伯托BERTHOLD
LB6500-4-H10剂量率探头德国伯托BERTHOLD
LB761低本底放射性测量仪德国伯托BERTHOLD
LB134剂量率监测器德国伯托BERTHOLD
LB2046便携式αβ测量仪德国伯托BERTHOLD
LB761低本底放射性测量仪德国伯托BERTHOLD
LB790低本底放射性测量仪德国伯托BERTHOLD
LB1343污染测量仪德国伯托BERTHOLD
LB147手脚衣物污染监测仪德国伯托BERTHOLD
LB124SCINT便携式污染测量仪德国伯托BERTHOLD