| 仪器名称 | X射线光电子能谱仪 | 仪器型号 | ESCALAB 250Xi |
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| 所属单位 | 理化技术研究所 | 所属区域中心 | 北京物质和纳米科学大型仪器区域中心 | ||
| 制造商名称 | 赛默飞世尔科技公司 | 国别 | 英国 | ||
| 购置时间 | 2015/12/01 | 放置地点 | 1号楼104-2 | ||
| 预约审核人 | 王婧媛,陆珩 | 操作人员 | 王婧媛,陆珩 | ||
| 仪器工作状态 | 正常 | 预约形式 | 必须预约 | ||
| 预约类型 | 项目预约 | ||||
| 仪器大类 | 室内分析测试设备 | 仪器中类 | 能谱仪器 | 仪器小类 | X射线能谱仪器 |
| 仪器主要功能及描述 | 该设备主要用来表征固态材料表面元素及其化学状态，包含常规X射线光电子能谱XPS、紫外光电子能谱UPS、离子散射谱ISS，反射电子能量损失谱REELS，微区俄歇电子能谱AES，元素随深度的分布信息即深度剖析Depth Profile，单原子和团簇模式Ar离子刻蚀，角分辨光电子能谱ARXPS等 | ||||
| 备注 | |||||
| 序号 | 样品分类 | 分析项目 | 前处理标准名称 | 分析项目标准名称 | 对外服务价格 |
|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 固体、薄膜、粉末等无挥发非磁性或弱磁性固态材料 | 角分辨光电子能谱-ARXPS | 用户指定 | 用户指定 | 3000 |
| 2 | 固体、薄膜、粉末等无挥发非磁性或弱磁性固态材料 | 深度剖析-Depth Profiling | 用户指定 | 用户指定 | 3000 |
| 3 | 固体、薄膜、粉末等无挥发非磁性或弱磁性固态材料 | 离子散射谱-ISS | 用户指定 | 用户指定 | 600 |
| 4 | 固体、薄膜、粉末等无挥发非磁性或弱磁性固态材料 | 反射电子能量损失谱-REELS | 用户指定 | 用户指定 | 600 |
| 5 | 固体、薄膜、粉末等无挥发非磁性或弱磁性固态材料 | 紫外光电子能谱-UPS | 用户指定 | 用户指定 | 700 |
| 6 | 固体、薄膜、粉末等无挥发非磁性或弱磁性固态材料 | 俄歇电子能谱-Auger | 用户指定 | 用户指定 | 800 |
| 7 | 固体、薄膜、粉末等无挥发非磁性或弱磁性固态材料 | X射线光电子能谱-XPS | 用户指定 | 用户指定 | 600 |
同位素质谱仪 MAT253（MAT253）
X射线衍射仪（Ultima IV）
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超快速高分离液相色谱仪（Prominence UFLC XR）
流动分析仪Skalar(1)（San++System）
流动分析仪Skalar(2)（San++System）
透射电子显微镜（H-7500）
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元素分析-同位素质谱分析联用仪（Flash-2000 Delta V ADVADTAGE）
热表面电离质谱计(IsoProbe-T)（IsoProbe-T）
LB6411中子剂量率探测器德国伯托BERTHOLD
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