X-衍射荧光光谱仪（AXIOS PW4400）

主要技术指标

动态过程中保持±0.05 °C的温度恒定度。在线型范围<1% 流气探测器33000kcps; 闪烁探测器31500kcps扫描通道角度定位精度：<0.0001o能对仪器进行全面的操作控制，进行定性, 定量分析, 自动校正功能, 自动判别干扰谱线功能,；拥有理论a系数, 经验a、b、g系数和基本参数法计算功能。

主要功能/应用范围

X-射线荧光分析法特征性强、干扰少，尤其适用于稀土元素及化学方法难分离的元素如锶钡、铌钽等的分析；分析样品的含量范围广，从微量到常量都可进行分析，其精密度、准确度都能满足要求，是一种简便、快速、准确的无损分析方法。可用于RoHS &WEEE 有害物质分析、金属合金成分分析、矿石成分分析、油品元素分析、食品成分分析、建筑材料成分分析、地质样品元素分析等。

服务内容

无

服务的典型成果

无

对外开放共享规定

无

参考收费标准

无

仪器联系人：

李存满

联系电话：

0311-81669047

电子邮箱：

传　　真：